동적 광산란 – 안료 분쇄 공정 분석

동적 광산란
동적 광산란(DLS)법은 일반적으로 서브 마이크론 범위에서의 입도 분석시 사용되는 방법입니다.

이 방법은 브라운 운동(Brownian motion)을 실시하는 입자 현탁액에서 산란광세기의 시간에 따른 변동을 측정하는
것입니다. 이러한 산란광의 세기변동을 분석하면 입도를 알 수 있는 산 계수를 결정할 수 있습니다.
일반적인 DLS 기기에서 사용하는 출 각도는 90°입니다. 다중 산란 과를 없애야 하기 때문에 이러한
광학시스템을 사용하는 기기의 농도 범위 매우 낮습니다. 다중 산란은 한입자에 의해 산란된 빛이 다른 입자에
의해 산란되는 현상입니다. 다중 란에 의해 겉보기 입도와 y 절편값(신호 대 잡음비)이 낮아집니다.
측정된 입도는 시료 농도에 영향을 받지 않아야 합니다.일반적인 90° DLS 기기에서는 산란광이

시료를 통과해야 하는 경로가 매우 깁니다. 다중 산란 효과를 제거하는 방법 중 하나는 산란광의
경로 길이를 줄이는 것인데 이는 후방 산란 시스템을 사용하여 제거될 수 있습니다.

Zetasizer Nano S 는비침투성 후방 산란 검출(NIBS™)을 사용하는데 이 방식은 일반적인 DLS
기기에 비해 훨씬 더 높은 농도의 시료를 측정할 수 있습니다.
입자의 확산 속도(측정된 입도)에 영향을 주는 또 다른 요소로는 입자들간의 상호 작용이 있습니다.
이러한 상호 작용이 존재할 경우,DLS 기기를 정확한 입도 측정기로는 사용할 수 없지만 입도 변화 모니터닝
에는 사용이 가능합니다.


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